薄膜干涉 薄膜干涉检查平整度左凹右凸

薄膜干涉：解读“左凹右凸”的奥秘

薄膜干涉，这一技术，凭借光波干涉现象，成为了检测表面平整度的得力助手。它的核心原理在于，通过细致分析干涉条纹的形变，揭示被测表面的凹凸情况。那么，关于人们常提到的“左凹右凸”的判断方法，究竟如何解读呢？

我们要明确干涉条纹与表面形貌的对应关系：

当我们观察到干涉条纹向左弯曲（即向左凸出）时，这暗示着被测表面存在凹陷缺陷。

相反，如果干涉条纹向右弯曲（即向右凸出），则表明被测表面存在凸起缺陷。

为了方便记忆，人们编制了“左凹右凸”这一简洁明了的口诀，作为在标准检测装置示意图中的判断规则。

进一步其物理原理，我们发现：

在凸起区域，光程差会增大。为了“找回”原厚度，干涉条纹会向楔形薄膜的宽口侧（右侧）偏移。

而在凹陷区域，光程差减小，条纹会向左侧偏移，以补偿厚度变化。这种偏移的本质是光程差的自我补偿现象，是在等厚干涉条件下的自然现象。

这一技术在工业检测中有着广泛的应用。具体操作流程如下：

1. 将标准样板与被测件形成楔形空气膜。

2. 使用单色光垂直照射，如钠光灯。

3. 观察形成的等厚干涉条纹。

4. 根据条纹的弯曲方向判断缺陷的类型。

值得注意的是，使用这种方法时，需要遵循一些操作要求：

使用单色光源，以确保干涉条纹的清晰度。

标准样板的表面精度应远高于被测件。

观察方向需与光源同侧，以确保最佳的观测效果。

薄膜干涉技术，正是通过这些细致而精确的判断，帮助我们在众多领域中实现对表面平整度的精确检测。“左凹右凸”，既是技术要点，也是解读秘密的钥匙。